| scanning capacitance microscope (SCAM) | mikroskop kapasitans pengimbasan (SCAM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Sejenis pengimbas kuar mikroskop (SPM) yang menggunakan kuar elektrod untuk menganalisis sampel dengan cara meletakkan kuar elektrod bersentuhan atau berdekatan dengan permukaan sampel. Maklumat sampel diperoleh melalui perubahan elektrostatik kapasitans di antara permukaan kuar elektrod. |
| scanning tunneling microscope (STM) | mikroskop penerowongan pengimbasan (STM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu kuar tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara kuar dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata kuar ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara kuar dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik kuar semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbasan kuar (SPM). |
| piezoelectric probe | kuar piezoelektrik | Kejuruteraan | Tiada | Kuar yang beroperasi berdasarkan kesan piezoelektrik untuk mengukur tekanan plasma. |
| Langmuir probe | kuar Langmuir | Kejuruteraan | Tiada | Kuar pengukuran ketumpatan elektron berdasarkan frekuensi resonans plasma ionosfera yang teruja oleh isyarat radiofrekuensi. |
| Hall probe | kuar Hall | Kejuruteraan | Tiada | Kuar magnet yang digunakan dalam kajian plasma berasaskan kesan Hall. |
| sound probe | kuar bunyi | Sosiologi | Tiada | Kuar yang berfungsi untuk mengesan bunyi. |
| moisture probe | kuar kelengasan | Hidrologi | Tiada | Kuar yang digunakan untuk mengukur kelengasan tanih. |
| plasma frequency probe | kuar frekuensi plasma | Kejuruteraan | Tiada | Kuar pengukuran ketumpatan elektron berdasarkan frekuensi resonans plasma ionosfera yang teruja oleh isyarat radiofrekuensi. |
| soil moisture probe | kuar lembapan tanah | Kejuruteraan | Tiada | Kuar yang menggunakan teknik serakan neutron bagi mengukur kelembapan tanah. |
| scanning probe microscope (SPM) | mikroskop penduga pengimbasan (SPM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |