| scanning | pengimbasan | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Teknik menggerakkan prob pada permukaan bahan yang diuji. Pengimbasan bertujuan untuk mendapatkan maklumat terperinci dan imej ketakselanjaran dalam bahan. Hasil pengimbasan daripada prob dengan bahan yang diuji, imej imbasan dapat dilihat pada paparan skrin alat pengesan kecacatan ultrasonik. Terdapat tiga jenis imbasan asas pada paparan skrin, iaitu imbas-A, imbas-B, dan imbas-C. Lihat juga imbas-A, imbas-B, imbas-C. |
| scanning force spectroscope (SFS) | spektroskop daya pengimbasan (SFS) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel melalui pengimbasan kontur permukaan. Proses pengimejan berlaku, apabila pesongan hujung yang tajam pada tip, menderia daya permukaan yang dipasang pada kantilever (julur tuas) dipantau |
| biometric | biometrik | Teknologi Maklumat | Keselamatan Komputer | Kaedah pengesahan identiti pengguna melalui pengimbasan dan pemadanan satu atau lebih ciri fizikal pengguna yang sukar dipalsukan. Contoh kaedah biometrik ialah pengimbasan retina, pengecaman cap jari dan pengecaman suara. |
| three dimension field emission scanning electron microscope (3D FESEM) | mikroskop elektron pengimbasan tiga dimensi (3D FESEM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat pengimejan beresolusi tinggi yang terdapat pada FESEM dengan maklumat kuantitatif metrologi permukaan. Lihat juga mikroskop pengimbasan elektron pancaran medan (FESEM). |
| scanning tunneling microscope (STM) | mikroskop penerowongan pengimbasan (STM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu kuar tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara kuar dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata kuar ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara kuar dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik kuar semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbasan kuar (SPM). |
| scanning | pengimbasan | Fizik | Tiada | Tiada |
| scanning | pengimbasan | Perubatan | Tiada | Proses menggunakan sintifotografi untuk menghasilkan peta sintilasi atau gambaran sesuatu bahagian tubuh. |
| scanning | pengimbasan | Perpustakaan | Tiada | Tiada |
| scanning | pengimbasan | Perubatan | Tiada | Tiada |
| scanning | pengimbasan | Kejuruteraan | Tiada | Tiada |