| scanning tunneling microscope (STM)] | mikroskop penerowongan imbasan (STM) | Fizik | Nanoteknologi | Mikroskop yang mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu penduga tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara penduga dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata penduga ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara penduga dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik penduga semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbas penduga (SPM). Banding mikroskop daya atom. |
| scanning tunneling microscope (STM) | mikroskop penerowongan pengimbasan (STM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu kuar tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara kuar dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata kuar ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara kuar dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik kuar semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbasan kuar (SPM). |
| short term memory (STM)) | ingatan jangka pendek (STM) | Psikologi | Psikologi Umum | Ingatan yang menyimpan sejumlah kecil maklumat dalam masa yang agak singkat. Maklumat yang disimpan dalam ingatan jangka pendek adalah dalam bentuk imej terutamanya secara fonetik. Contohnya, jika individu diperkenalkan kepada seorang kawan yang bernama Khalil, individu tersebut mungkin akan lebih mudah mengingatinya dengan mengaitkannya dengan bunyi -lil seperti Bakhil, Akil atau Jalil berbanding nama Seman atau Murad. Ingatan ini juga dikaitkan dengan ingatan bekerja, iaitu satu kawasan dalam otak yang digunakan untuk berfikir. Ingatan ini sangat sensitif kepada gangguan kerana mudah dilupai jika terdapat perkara yang mengganggunya. |
| spin-polarized tunneling component | komponen penerowongan spin terkutub | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Komponen khusus pada pengimbas mikroskopi terowong (STM), yang berfungsi untuk memberikan maklumat terperinci tentang fenomena magnet sampel. |
| cantilever tip | tip kantilever | Fizik | Nanoteknologi | Satu tip pada hujung kantilever dalam alat mikroskop daya atom (AFM) atau mikroskop penerowongan imbasan (STM) digunakan untuk mengesan kedudukan atau saiz atom atau ciri-ciri lain pada sampel. Tip ini berbentuk tirus dan biasanya disadur dengan emas atau intan supaya lebih keras. |
| cantilever | kantilever | Fizik | Nanoteknologi | Palang pejal yang dapat bergetar pada satu hujung penduga yang digunakan dalam alat mikroskop daya atom (AFM) atau mikroskop penerowongan imbasan (STM). Bentuk kantilever bergantung pada mod pengukuran alat tersebut. Kantilever biasanya diperbuat daripada silikon (Si), silikon nitrida (SiN) atau nanotiub karbon. |
| quantum corral | kandang kuantum | Fizik | Nanoteknologi | Cincin bersaiz nanometer yang terdiri daripada susunan atom yang teratur di atas substrat. Atom tersebut disusun menggunakan mikroskop penerowongan atom (STM). Saiz dan bentuk kandang ini menentukan keadaan kuantum, termasuk tenaga dan taburan elektron. Contohnya, cincin atom kobalt atau besi atas permukaan kuprum. |
| scanning probe lithography | litografi penduga imbasan | Fizik | Nanoteknologi | Kaedah litografi bagi menghasilkan corak bersaiz nanometer pada permukaan suatu bahan terutamanya bahan semikonduktor dengan menggunakan mikroskop penerowongan imbasan (STM) atau mikroskop daya atom (AFM). Corak ini dihasilkan apabila penduga yang bermata tajam mengimbas permukaan dengan menggores permukaan, melakukan pemanasan setempat atau melukis menggunakan dakwat bahan kimia tertentu. Kaedah ini diperlukan bagi menghasikan corak bersaiz di bawah skala 100 nm, yang tidak dapat dihasilkan oleh kaedah litografi optik atau kaedah yang lain. |
| nanoscale lithography | litografi nanoskala | Fizik | Nanoteknologi | Seni dan sains pemunaran, penulisan dan pencetakan huruf atau litar pada peringkat skala nanometer. Proses ini termasuklah kaedah mengubah suai cip semikonduktor pada skala atom untuk tujuan fabrikasi litar bersepadu. Peralatan yang digunakan dalam nanolitografi ini termasuklah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). |
| scanning probe instrument | alat penduga pengimbas | Fizik | Nanoteknologi | Peranti yang menggunakan penduga halus untuk mengimej sifat fizik suatu permukaan seperti topografi, sifat elektrik, magnet dan terma, secara mengimbas permukaan sampel baris demi baris. Sifat fizik tersebut ditentukan hasil saling tindakan penduga dan bahan. Alat ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer dan dapat digunakan juga untuk melakukan litografi, memindahkan dan menyusun nanozarah dan nanotiub. Contoh alat ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Lihat juga mikroskopi penduga imbasan, litografi penduga imbasan. |