| irrespective of percentage | tidak kira peratusan | Pentadbiran Perniagaan | Tiada | Polisi insurans marin yang menetapkan bahawa insurer akan membayar tuntutan walau sekecil mana pun peratusan kerugian. Ini bermakna francais tidak akan diambil kira. |
| chart paper | kertas carta | Perpustakaan | Tiada | Kertas yang keras lagi kukuh, rata dan licin, tanpa berkilat tetapi mudah dilentur, dilipat dan diregang sekecil mungkin semasa cetakan, yang sesuai digunakan untuk membuat carta. |
| magnetostrictive effect | kesan magnetostriktif | Fizik | Nanoteknologi | Perubahan dimensi suatu bahan apabila dikenakan medan magnet arus terus. Kesan ini digunakan untuk mengukur medan magnet sekecil 10-9 tesla dengan cara suatu palang tuas mikroelektromekanik (MEMS) disalut dengan bahan yang memberikan kesan magnetostriktif yang menyebabkan tuas tersebut melentur apabila dikenakan medan magnet dan seterusnya mengubah frekuensi resonans. |
| astrogeodetic datum orientation | tentu arah datum geodesi falak | Matematik | Tiada | Pelarasan elipsoid rujukan datum tertentu supaya jumlah kuasa dua sisihan mencancang pada titik yang dipilih pada rangkaian geodesi supaya menjadi sekecil yang mungkin. |
| scanning tunneling microscope (STM)] | mikroskop penerowongan imbasan (STM) | Fizik | Nanoteknologi | Mikroskop yang mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu penduga tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara penduga dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata penduga ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara penduga dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik penduga semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbas penduga (SPM). Banding mikroskop daya atom. |
| scanning tunneling microscope (STM) | mikroskop penerowongan pengimbasan (STM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu kuar tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara kuar dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata kuar ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara kuar dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik kuar semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbasan kuar (SPM). |