| friction force microscope | mikroskop daya geseran | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengukur daya sisi yang bertindak di antara tip nanoskopik tajam dengan permukaan sampel ke arah kantilever berpintal semasa mengimbas tip. Daya geseran berlaku di antara kantilever dan sampel kepada kilasan yang pada masa yang sama dikesan sebagai imej geseran dan topografik. |
| scanning force spectroscope (SFS) | spektroskop daya pengimbasan (SFS) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel melalui pengimbasan kontur permukaan. Proses pengimejan berlaku, apabila pesongan hujung yang tajam pada tip, menderia daya permukaan yang dipasang pada kantilever (julur tuas) dipantau |
| atomic force microscope (AFM) | mikroskop daya atom (AFM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan dengan mengimbas kontur permukaan secara mekanikal iaitu dengan mengesan daya permukaan menggunakan kantilever (julur tuas) pesongan tip tajam. |
| arc light | cahaya arka | Komunikasi | Tiada | Cahaya yang mempunyai daya tekanan tinggi untuk memberi imej yang tajam. Cahaya jenis ini kerap digunakan untuk mendapatkan kesan seperti pancaran matahari dan juga digunakan dalam rancangan hiburan. |
| differential titration | pentitratan pembezaan | Kimia | Kimia Analisis | Kaedah titratan potensiometri yang mencatat perubahan daya gerak elektrik (∆E) dengan pertambahan kecil titran (∆V). Takat akhir ditunjukkan oleh puncak yang tajam dalam plot ∆E/∆V lawan V. bd. pentitratan potensiometri. |
| scanning probe lithography | litografi penduga imbasan | Fizik | Nanoteknologi | Kaedah litografi bagi menghasilkan corak bersaiz nanometer pada permukaan suatu bahan terutamanya bahan semikonduktor dengan menggunakan mikroskop penerowongan imbasan (STM) atau mikroskop daya atom (AFM). Corak ini dihasilkan apabila penduga yang bermata tajam mengimbas permukaan dengan menggores permukaan, melakukan pemanasan setempat atau melukis menggunakan dakwat bahan kimia tertentu. Kaedah ini diperlukan bagi menghasikan corak bersaiz di bawah skala 100 nm, yang tidak dapat dihasilkan oleh kaedah litografi optik atau kaedah yang lain. |
| scanning tunneling microscope (STM)] | mikroskop penerowongan imbasan (STM) | Fizik | Nanoteknologi | Mikroskop yang mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu penduga tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara penduga dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata penduga ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara penduga dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik penduga semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbas penduga (SPM). Banding mikroskop daya atom. |