| scanning capacitance microscope (SCAM) | mikroskop kapasitans pengimbasan (SCAM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Sejenis pengimbas kuar mikroskop (SPM) yang menggunakan kuar elektrod untuk menganalisis sampel dengan cara meletakkan kuar elektrod bersentuhan atau berdekatan dengan permukaan sampel. Maklumat sampel diperoleh melalui perubahan elektrostatik kapasitans di antara permukaan kuar elektrod. |
| thermoelectrometry | termoelektrometri | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Kaedah untuk mengukur sifat elektrik (rintangan, konduksian, kapasitans) sesuatu bahan mengikut perubahan suhu (fungsi suhu). |
| Coulomb blockade nanotube | nanotiub penghalang Coulomb | Fizik | Nanoteknologi | Nanotiub yang meningkatkan rintangan pada voltan pincang kecil dalam alat elektronik yang mengandungi sekurang-kurangnya satu simpang terowong kapasitans rendah. Proses ini berlaku berasaskan kesan penghalang Coulomb yang hanya terdapat pada bahan berstruktur nano seperti nanotiub dan bintik kuantum. |
| Coulomb blockade | penghalang Coulomb | Fizik | Nanoteknologi | Alat untuk menghalang pemindahan elektron ke dalam daerah yang menghasilkan perubahan tenaga elektrostatik melebihi tenaga terma. Jika daerah tersebut dicirikan dengan kapasitans C, tenaga elektrostatik bertambah sebanyak e2/2C dengan kehadiran suatu elektron. Dalam struktur makro, perubahan tenaga ini tidak ketara manakala dalam struktur nano terutamanya dalam bintik kuantum, syarat e2/2C melebihi tenaga terma kBT amat ketara. Perubahan dalam tenaga elektrostatik yang disebabkan oleh pemindahan elektron tunggal terhasil dalam jurang tenaga e2/2C dalam spektrum tenaga pada aras Fermi dikenali sebagai jurang Coulomb. Kemasukan elektron dalam rejim penghalang Coulomb disekat sehingga jurang tenaga diatasi oleh medan pincang. Fenomena ini berlaku dalam penerowongan elektron tunggal. Sinonim jurang Coulomb. |