| microscopical examination | pemeriksaan mikroskopi | Herba | Tiada | Kaedah untuk menentukan ciri bentuk, struktur sel, saiz, warna, permukaan, tekstur dan rupa bahan herba seperti daun, bunga, buah, biji, batang, kulit kayu, akar, rizom dan sebagainya dengan menggunakan mikroskop. Kaedah ini berguna untuk menentukan identiti, ketulenan dan kualiti suatu bahan mentah herba dalam bentuk utuh atau yang telah diserbukkan. Bahan herba biasanya dirawat dengan bahan pelekap tertentu untuk melihat struktur tisu dan sel di bawah mikroskop cahaya. Setiap bahan herba mempunyai ciri mikroskopi tersendiri seperti stomata, trikom, fiber, vesel dan kandungan sel ergastik yang spesifik. Ciri ini boleh digunakan untuk membezakan antara spesies tumbuhan dan pemiawaian bahan herba. Contohnya, sel stomata akan kelihatan pada permukaan bawah spesimen daun, sel debunga pada bunga dan sel kanji pada rizom. Parameter kuantitatif seperti indeks stomata boleh digunakan untuk membezakan spesies yang hampir sama. |
| electron microscopy | mikroskopi elektron | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Kaedah yang digunakan untuk mendapatkan imej sampel beresolusi tinggi melalui mikroskop elektron bagi mengkaji struktur permukaan bahan. |
| optical microscopy | mikroskopi optik | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Kaedah untuk menganalisis sampel dengan lebih jelas melalui pembesaran imej dari kanta dengan cahaya tampak. Kaedah ini mula digunakan pada abad ke-18 dan masih digunakan hingga hari ini. |
| magnetic force microscopy (MFM) | mikroskopi daya magnetik (MFM) | Fizik | Nanoteknologi | Penggunaan mikroskop daya magnet untuk mencerap fasa magnet suatu sampel dengan cara mengimbas suatu penduga pada permukaan sampel. Alat yang biasa digunakan ialah mikroskop daya atom yang menggunakan suatu penduga khas yang peka kepada medan magnet. Mikroskop daya magnet dapat mengukur resolusi sehingga 10 nm. Contoh penggunaan alat ini adalah untuk mengkaji fasa magnet pada pita video dan jalur magnet bagi kad kredit atau kad bank. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| scanning probe microscopy (SPM) | mikroskopi penduga imbasan (SPM) | Fizik | Nanoteknologi | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| compact scanning electron microscopy | mikroskopi elektron pengimbasan padat | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Kaedah yang digunakan untuk mengimbas elektron dengan menggunakan voltan rendah bagi menghasilkan imej kontras permukaan pada resolusi yang tinggi. |
| conductive atomic force microscopy | mikroskopi daya atom konduksi | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Kaedah yang digunakan pada mikroskop daya atom (AFM) berfungsi untuk mengukur topografi dan arus elektrik pada sampel. |
| confocal optical microscopy (COM) | mikroskopi optik sefokus (COM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Kaedah yang digunakan untuk meningkatkan kontras (kejelasan) imej pada mikroskop, terutama pada sampel/bahan uji yang tebal. Sampel/bahan uji akan disinari oleh cahaya sefokus. Cahaya sefokus terbentuk apabila cahaya tersebut melalui lubang (pinhole). Cahaya daripada sampel/bahan uji tersebut kemudiannya terpantul semula dan dikesan oleh alat pengesan. |
| electrostatic force microscopy (EFM) | mikroskopi daya elektrostatik (EFM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Kaedah yang digunakan untuk mengukur sifat elektrik permukaan sampel tanpa sentuh dengan mengukur daya elektrostatik yang terbentuk di antara permukaan sampel dan kantilever (julur tuas). |
| helium ion microscopy (HIM) | mikroskopi ion helium (HIM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Kaedah pengimejan yang menggunakan pancaran ion helium untuk menghasilkan elektron sekunder. |