| rubbing | karya gosok | Kesenian | Tiada | Pemindahan reka bentuk atau corak dari sesuatu permukaan ke permukaan lain dengan cara menggosokkan pensel di atas permukaan yang hendak dipindahkan. |
| scanning probe microscope (SPM) | mikroskop penduga pengimbasan (SPM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning probe microscopy (SPM) | mikroskopi penduga imbasan (SPM) | Fizik | Nanoteknologi | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| lateral force microscope | mikroskop daya sisi | Fizik | Nanoteknologi | Peranti yang menghasilkan imej suatu permukaan dengan menggerakkan hujung jarum kantilever secara mendatar dan bersentuhan sepanjang permukaan sampel. Imej permukaan diperoleh daripada kilasan kantilever yang berubah terhadap daya geseran permukaan. Mikroskop ini sangat peka terhadap bahan yang terdiri daripada fasa yang berbeza. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| atomic force microscope (AFM) | mikroskop daya atom (AFM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan dengan mengimbas kontur permukaan secara mekanikal iaitu dengan mengesan daya permukaan menggunakan kantilever (julur tuas) pesongan tip tajam. |
| scanning tunneling microscope (STM)] | mikroskop penerowongan imbasan (STM) | Fizik | Nanoteknologi | Mikroskop yang mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu penduga tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara penduga dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata penduga ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara penduga dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik penduga semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbas penduga (SPM). Banding mikroskop daya atom. |
| furring | pelapik | Kesenian | Hiasan Dalaman | Kerangka ringan atau kepingan kayu dan besi yang digunakan pada dinding, rasuk atau apa juga permukaan untuk menyokong permukaan kemasan dan menyeragamkan atau meratakan permukaan. |
| ramp | tanjakan | Kesenian | Hiasan Dalaman | Permukaan menurun atau menaik yang menghubungkan aras rendah kepada aras yang lebih tinggi atau sebaliknya, dengan mengambil alih fungsi tangga. Tanjakan berlaku apabila permukaan cekung bertemu dengan permukaan menegak seperti yang terdapat pada selusur tangan atau koping yang membelok dari cerun ke arah mendatar atau meningkat dari satu aras kepada aras yang lebih tinggi. |
| isosteric surface | permukaan isosterik | Sains | Tiada | Permukaan yang isi padu spesifiknya tetap. Oleh sebab isi padu spesifik merupakan songsangan ketumpatan maka permukaan isosterik juga isopiknik. |
| specific surface | permukaan tentu | Kejuruteraan | Tiada | Permukaan zarah dalam satu unit isi padu bahan. Lebih kecil saiz zarah, maka lebih besarlah permukaan tentunya. |