| lever systems | sistem tuas | Sains Sukan | Biomekanik | Suatu sistem mekanikal yang menyatakan kedudukan relatif antara beban, daya dan fulkrum. Terdapat tiga kelas tuas, iaitu tuas kelas pertama, tuas kelas kedua dan tuas kelas ketiga. Pengelasan tuas ditentukan oleh komponen yang berada di tengah sistem. Pada sistem mekanikal manusia, tulangtulang bertindak sebagai tuas, sendi sebagai fulkrum, dan otot menjana daya yang diperlukan untuk mengatasi beban. Secara umumnya, tuas kelas pertama berfungsi untuk keseimbangan, tuas kelas kedua berfungsi untuk menjimatkan daya dan tuas kelas ketiga berfungsi untuk menghasilkan kelajuan dan julat pergerakan yang besar. |
| cantilever | julur tuas | Kesenian | Hiasan Dalaman | Binaan rasuk, lantai atau kasau yang mempunyai penyokong atau pengikat pada satu penghujung sahaja. |
| magnetostrictive effect | kesan magnetostriktif | Fizik | Nanoteknologi | Perubahan dimensi suatu bahan apabila dikenakan medan magnet arus terus. Kesan ini digunakan untuk mengukur medan magnet sekecil 10-9 tesla dengan cara suatu palang tuas mikroelektromekanik (MEMS) disalut dengan bahan yang memberikan kesan magnetostriktif yang menyebabkan tuas tersebut melentur apabila dikenakan medan magnet dan seterusnya mengubah frekuensi resonans. |
| pitman arm | lengan pitman | Kejuruteraan Automotif | Industri Pembuatan Kereta | Tuas pendek bergelugur yang menyambungkan gear stereng dengan aci melintang. Ia memindahkan daya stereng ke rangkaian stereng. |
| ring expander | pengembang gelang | Kejuruteraan Automotif | Enjin | Alat yang digunakan untuk memasang dan mengeluarkan gelang pada omboh. Gelang dikembangkan oleh alat ini dengan menggunakan prinsip tuas semasa proses memasangnya pada omboh atau mengeluarkannya daripada omboh. |
| atomic force microscope (AFM) | mikroskop daya atom (AFM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan dengan mengimbas kontur permukaan secara mekanikal iaitu dengan mengesan daya permukaan menggunakan kantilever (julur tuas) pesongan tip tajam. |
| electrostatic force microscopy (EFM) | mikroskopi daya elektrostatik (EFM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Kaedah yang digunakan untuk mengukur sifat elektrik permukaan sampel tanpa sentuh dengan mengukur daya elektrostatik yang terbentuk di antara permukaan sampel dan kantilever (julur tuas). |
| scanning force spectroscope (SFS) | spektroskop daya pengimbasan (SFS) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel melalui pengimbasan kontur permukaan. Proses pengimejan berlaku, apabila pesongan hujung yang tajam pada tip, menderia daya permukaan yang dipasang pada kantilever (julur tuas) dipantau |