| scanning probe microscopy (SPM) | mikroskopi penduga imbasan (SPM) | Fizik | Nanoteknologi | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning probe microscope (SPM) | mikroskop penduga pengimbasan (SPM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning capacitance microscope (SCAM) | mikroskop kapasitans pengimbasan (SCAM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Sejenis pengimbas kuar mikroskop (SPM) yang menggunakan kuar elektrod untuk menganalisis sampel dengan cara meletakkan kuar elektrod bersentuhan atau berdekatan dengan permukaan sampel. Maklumat sampel diperoleh melalui perubahan elektrostatik kapasitans di antara permukaan kuar elektrod. |
| scanning tunneling microscope (STM)] | mikroskop penerowongan imbasan (STM) | Fizik | Nanoteknologi | Mikroskop yang mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu penduga tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara penduga dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata penduga ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara penduga dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik penduga semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbas penduga (SPM). Banding mikroskop daya atom. |
| scanning tunneling microscope (STM) | mikroskop penerowongan pengimbasan (STM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu kuar tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara kuar dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata kuar ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara kuar dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik kuar semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbasan kuar (SPM). |