| scanning probe lithography | litografi penduga imbasan | Fizik | Nanoteknologi | Kaedah litografi bagi menghasilkan corak bersaiz nanometer pada permukaan suatu bahan terutamanya bahan semikonduktor dengan menggunakan mikroskop penerowongan imbasan (STM) atau mikroskop daya atom (AFM). Corak ini dihasilkan apabila penduga yang bermata tajam mengimbas permukaan dengan menggores permukaan, melakukan pemanasan setempat atau melukis menggunakan dakwat bahan kimia tertentu. Kaedah ini diperlukan bagi menghasikan corak bersaiz di bawah skala 100 nm, yang tidak dapat dihasilkan oleh kaedah litografi optik atau kaedah yang lain. |
| skip distance | jarak langkau | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Jarak yang diukur pada permukaan imbasan antara indeks alur pada prob bersudut dan titik paksi alur bertembung dengan permukaan imbasan selepas satu pantulan pada permukaan yang bertentangan. Jarak langkau ini mempunyai dua keadaan, iaitu jarak langkau separuh dan jarak langkau penuh. Lihat juga jarak langkau separuh, jarak langkau penuh. |
| scanning probe microscopy (SPM) | mikroskopi penduga imbasan (SPM) | Fizik | Nanoteknologi | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| C-scan | imbas-C | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Saiz ketakselanjaran dari bahan uji. Dalam imbas-C, satah imej adalah selari dengan corak imbasan prob. Pembentangan imbas-C dihasilkan melalui sistem pemerolehan data automatik menerusi sistem imbasan kawalan berkomputer. Get pengumpulan data dihasilkan melalui pemilihan isyarat pada imbas-A, dan amplitud atau masa perjalanan gelombang bunyi direkodkan pada selang masa tertentu ketika prob diimbas pada permukaan bahan uji. |
| ultrasonic scanning presentation | imbasan ultrasonik | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Bentuk paparan pada skrin ultrasonik oleh prob semasa proses pengujian bahan dilaksanakan. Terdapat tiga bentuk asas paparan yang dipersembahkan pada skrin ultrasonik, iaitu A, B dan C. Lihat juga imbas-A, imbas-B, imbas-C. |
| paywave payment | pembayaran secara imbasan | Pentadbiran Perniagaan | Tiada | Kaedah pembayaran tanpa sentuh yang memberikan kemudahan kepada pengguna untuk membeli produk atau perkhidmatan dengan hanya mengimbas kad kredit atau kad debit pada terminal pembayaran tanpa memerlukan pengesahan nombor PIN. |
| scanning tunneling microscope (STM)] | mikroskop penerowongan imbasan (STM) | Fizik | Nanoteknologi | Mikroskop yang mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu penduga tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara penduga dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata penduga ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara penduga dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik penduga semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbas penduga (SPM). Banding mikroskop daya atom. |
| reprography | reprografi | - | Tiada | Penghasilan semula bahan cetak seperti imbasan, fotografi, fotokopi dan cetakan digital daripada bahan asal. |
| critical thinking | pemikiran kritis | Kejururawatan | Tiada | Pemikiran yang bertujuan membuat pertimbangan berdasarkan imbasan kembali terhadap bukti-bukti bagi memperkukuh rumusan. |
| scanning | pengimbasan | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Teknik menggerakkan prob pada permukaan bahan yang diuji. Pengimbasan bertujuan untuk mendapatkan maklumat terperinci dan imej ketakselanjaran dalam bahan. Hasil pengimbasan daripada prob dengan bahan yang diuji, imej imbasan dapat dilihat pada paparan skrin alat pengesan kecacatan ultrasonik. Terdapat tiga jenis imbasan asas pada paparan skrin, iaitu imbas-A, imbas-B, dan imbas-C. Lihat juga imbas-A, imbas-B, imbas-C. |