| scanning probe instrument | alat penduga pengimbas | Fizik | Nanoteknologi | Peranti yang menggunakan penduga halus untuk mengimej sifat fizik suatu permukaan seperti topografi, sifat elektrik, magnet dan terma, secara mengimbas permukaan sampel baris demi baris. Sifat fizik tersebut ditentukan hasil saling tindakan penduga dan bahan. Alat ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer dan dapat digunakan juga untuk melakukan litografi, memindahkan dan menyusun nanozarah dan nanotiub. Contoh alat ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Lihat juga mikroskopi penduga imbasan, litografi penduga imbasan. |
| scanning probe microscopy (SPM) | mikroskopi penduga imbasan (SPM) | Fizik | Nanoteknologi | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning tunneling microscope (STM)] | mikroskop penerowongan imbasan (STM) | Fizik | Nanoteknologi | Mikroskop yang mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu penduga tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara penduga dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata penduga ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara penduga dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik penduga semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbas penduga (SPM). Banding mikroskop daya atom. |
| atomic force microscope (AFM) | mikroskop daya atom (AFM) | Fizik | Nanoteknologi | Peranti yang menggunakan penduga yang dipasang pada spring untuk menghasilkan imej individu atom pada permukaan suatu bahan. Dalam reka bentuk konvensional, penduga merentasi permukaan bahan sambil bergerak turun dan naik kerana tarikan daya atom, pergerakan turun-naik tersebut dirakam dengan bantuan satu alur laser yang memantulkan cahaya dari kepala penduga. Pola cahaya pantulan membentuk imej permukaan. Imej yang diperoleh adalah 1000 kali ganda lebih besar daripada imej yang dihasilkan oleh mikroskop optik. AFM digunakan untuk menganalisis dan memproses bahan bagi pelbagai kegunaan termasuk elektronik, telekomunikasi, biologi dan industri teknologi tinggi yang lain. Penggunaan mikroskop ini telah diperluas daripada sistem yang asal termasuk mendapat imej sifat magnet bahan dan dapat digunakan pada bahan bukan konduktor. Banding mikroskop penerowongan imbasan. |
| scanning probe lithography | litografi penduga imbasan | Fizik | Nanoteknologi | Kaedah litografi bagi menghasilkan corak bersaiz nanometer pada permukaan suatu bahan terutamanya bahan semikonduktor dengan menggunakan mikroskop penerowongan imbasan (STM) atau mikroskop daya atom (AFM). Corak ini dihasilkan apabila penduga yang bermata tajam mengimbas permukaan dengan menggores permukaan, melakukan pemanasan setempat atau melukis menggunakan dakwat bahan kimia tertentu. Kaedah ini diperlukan bagi menghasikan corak bersaiz di bawah skala 100 nm, yang tidak dapat dihasilkan oleh kaedah litografi optik atau kaedah yang lain. |
| magnetic force microscopy (MFM) | mikroskopi daya magnetik (MFM) | Fizik | Nanoteknologi | Penggunaan mikroskop daya magnet untuk mencerap fasa magnet suatu sampel dengan cara mengimbas suatu penduga pada permukaan sampel. Alat yang biasa digunakan ialah mikroskop daya atom yang menggunakan suatu penduga khas yang peka kepada medan magnet. Mikroskop daya magnet dapat mengukur resolusi sehingga 10 nm. Contoh penggunaan alat ini adalah untuk mengkaji fasa magnet pada pita video dan jalur magnet bagi kad kredit atau kad bank. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| friction force microscope | mikroskop daya geseran | Fizik | Nanoteknologi | Peranti yang digunakan untuk mengukur daya geseran pada skala nano. Alur laser dan pengesan fotodiod digunakan untuk menentukan pesongan tip semasa penduga mengimbas permukaan. Geseran diukur dengan mendapatkan garis imbasan pada pelbagai beban tolakan yang diketahui. Penduga silikon pada pelbagai pemalar daya dan jejari tip menyamai nilai antara 150 nm - 200 nm digunakan untuk mengenakan beban normal dalam julat imbasan 5 nm - 700 nm. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| feeler gauge blade | bilah tolok penduga | Kejuruteraan Automotif | Industri Pembuatan Kereta | Jalur logam yang mempunyai bacaan ketebalan tertentu untuk mengukur sela kelegaan. |
| scanning probe microscope (SPM) | mikroskop penduga pengimbasan (SPM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| cantilever | kantilever | Fizik | Nanoteknologi | Palang pejal yang dapat bergetar pada satu hujung penduga yang digunakan dalam alat mikroskop daya atom (AFM) atau mikroskop penerowongan imbasan (STM). Bentuk kantilever bergantung pada mod pengukuran alat tersebut. Kantilever biasanya diperbuat daripada silikon (Si), silikon nitrida (SiN) atau nanotiub karbon. |