| probe-tube microphone | mikrofon tiub prob | Sains Kesihatan | Tiada | Tiub prob bermikrofon kecil yang disisipkan dalam kanal telinga untuk mengukur prestasi alat bantu pendengaran. |
| probe | pengesan | Bioinformatik | Bioinformatik Molekul | - |
| probe sequence | jujukan pengesan | Bioinformatik | Bioinformatik Molekul | Jujukan bebenang tunggal DNA atau RNA yang digunakan untuk mengesan segmen pelengkap di jujukan sasaran dalam satu sampel genom. |
| probe bandwidth | lebar jalur prob | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Julat frekuensi bagi sesebuah prob yang bergantung pada kaedah pembuatan prob. Syarikat pembuat prob komersial biasanya mengkategorikan prob buatannya sebagai lebar jalur, lebar jalur tinggi dan lebar jalur sederhana. Prob dengan lebar jalur mempunyai kelebaran jalur 50 – 100%, lebar jalur tinggi ialah 60 – 120% dan lebar jalur sederhana 30 – 50%. Lebar jalur mempengaruhi resolusi prob. Contohnya, dua kecacatan yang berdekatan dapat dibezakan apabila prob mempunyai resolusi yang tinggi. Rajah menunjukkan graf amplitud melawan frekuensi bagi sesuatu prob. Prob dengan ciri frekuensi lebar akan meningkatkan tahap resolusi. Ciri ini bergantung kepada ciri bahan peredam pada belakang transduser. |
| probe | prob | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Peranti yang berfungsi menukarkan isyarat masukan kepada isyarat keluaran dalam bentuk yang lain. Sinonim alat duga, tranduser. |
| probe | alat duga | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Lihat prob. |
| scanning probe instrument | alat penduga pengimbas | Fizik | Nanoteknologi | Peranti yang menggunakan penduga halus untuk mengimej sifat fizik suatu permukaan seperti topografi, sifat elektrik, magnet dan terma, secara mengimbas permukaan sampel baris demi baris. Sifat fizik tersebut ditentukan hasil saling tindakan penduga dan bahan. Alat ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer dan dapat digunakan juga untuk melakukan litografi, memindahkan dan menyusun nanozarah dan nanotiub. Contoh alat ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Lihat juga mikroskopi penduga imbasan, litografi penduga imbasan. |
| scanning probe lithography | litografi penduga imbasan | Fizik | Nanoteknologi | Kaedah litografi bagi menghasilkan corak bersaiz nanometer pada permukaan suatu bahan terutamanya bahan semikonduktor dengan menggunakan mikroskop penerowongan imbasan (STM) atau mikroskop daya atom (AFM). Corak ini dihasilkan apabila penduga yang bermata tajam mengimbas permukaan dengan menggores permukaan, melakukan pemanasan setempat atau melukis menggunakan dakwat bahan kimia tertentu. Kaedah ini diperlukan bagi menghasikan corak bersaiz di bawah skala 100 nm, yang tidak dapat dihasilkan oleh kaedah litografi optik atau kaedah yang lain. |
| scanning probe microscopy (SPM) | mikroskopi penduga imbasan (SPM) | Fizik | Nanoteknologi | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning probe microscope (SPM) | mikroskop penduga pengimbasan (SPM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |