| propagation | pembiakan; rambatan | Kejuruteraan | Tiada | 1. Penghantaran tenaga dalam bentuk gelombang di arah yang normal ke muka gelombang.,2. Penambahan bilangan tumbuh-tumbuhan melalui kaedah-kaedah vegetatif. |
| Arrhenius plot | plot Arrhenius | Fizik | Nanoteknologi | Satu plot garis lurus ln y melawan 1/T (atau 1/kT) bagi persamaan Arrhenius: dengan y= kadar tindak balas suatu proses, Ea= tenaga pengaktifan proses (atau entalpi), k= pemalar Boltzmann, T= suhu. Persamaan Arrhenius berlaku untuk kebanyakan proses terma seperti pemancaran elektron dari suatu dawai panas dan pertumbuhan kultur bakteria. Plot Arrhenius sangat berguna untuk menentukan tenaga pengaktifan sesuatu proses. |
| charging current | arus pengecasan | Kimia | Kimia Analisis | 1. Arus elektrik yang dialirkan dalam sel ketika proses pengecasan sedang dilakukan. Dalam proses ini tenaga elektrik ditukarkan kepada tenaga kimia yang tersimpan dalam sel tersebut. 2. Arus elektrik yang terhasil daripada aliran elektron apabila proses pengecasan titisan raksa terhadap larutan berlaku dalam polarografi. Ia merupakan salah satu komponen arus baki. bd. arus baki. |
| organic fluorophore molecule | molekul organik fluorofor | Fizik | Nanoteknologi | Molekul bahan organik yang terdiri daripada kumpulan fungsian bersifat pendarfluor. Molekul ini menyerap tenaga cahaya pada frekuensi tertentu dan memancarkan semula tenaga pada frekuensi yang berbeza. Nilai tenaga dan frekuensi pancaran bergantung pada jenis molekul fluorofor dan persekitaran kimia fluorofor tersebut. Antara contoh molekul fluorofor organik ialah 5-({2-[(iodeasetil) amino]etil}amino)naftalena-1-asid sulfonik (IAEDANS) dengan jarak gelombang penyerapan pada 336 nm dan jarak gelombang pancaran pada 490 nm. Molekul ini digunakan sebagai penanda dalam spektroskopi pendarfluor. Penggunaan molekul ini sebagai penanda dapat diganti dengan bintik kuantum. |
| absorption coefficient | pekali serapan | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Ukuran pengecilan yang disebabkan oleh penyerapan tenaga apabila sinaran melintasi sesuatu medium. Penyerapan tenaga ini menyebabkan keamatan sinaran berkurang. Nilai ini bersamaan dengan pecahan per unit jarak sinaran terserap. Unitnya ialah cm-1. Pekali penyerapan boleh dikaitkan sebagai: I = I0e-μx, dengan I ialah keamatan selepas melalui medium, I0 ialah keamatan asal, x ialah ketebalan medium dan μ ialah pekali serapan. |
| confined electron | elektron terkurung | Fizik | Nanoteknologi | Keadaan elektron yang terkurung di dalam perigi keupayaan berdimensi 0, 1, 2 atau 3 dengan saiz dari 1 nm - 100 nm. Jika saiz dimensi ini sama atau lebih kecil daripada jejari eksiton, sekitar 10 nm, elektron ini akan mengisi aras tenaga yang diskret. Contohnya, elektron yang terkurung di dalam bintik kuantum, nanotiub, nanowayar, dan nanorod. |
| reflection coefficient | pekali pantulan | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Parameter untuk mengukur peratus tenaga yang dipantulkan akibat interaksi antara gelombang bunyi dengan bahan. Apabila gelombang bunyi bertemu dengan sempadan dua media, sebahagian tenaga bunyi akan dipantulkan yang dikenali sebagai pekali R. Pekali R diberikan formula seperti yang berikut: Pekali pantulan, R = 1 - (4Z1Z2/(Z1 + Z2 )^2, Dengan Z1 dan Z2 ialah impedan akustik dalam dua bahan berbeza. Lihat juga pemantul, pekali penghantaran. Jadual menunjukkan nilai pekali pantulan R pada sempadan antara medium-medium yang berbeza. Contohnya antara aluminium dengan air, pekali pantulan ialah 72. Ini bermaksud 72% gelombang bunyi dipantul semula ke dalam aluminium yang terendam dalam air. |
| Heaviside step function | fungsi injak Heaviside | Fizik | Nanoteknologi | Fungsi yang tidak selanjar, diberi simbol H(x), bernilai sifar pada x < 0 dan 1 pada x > 0. Fungsi ini digunakan bagi menyatakan bilangan elektron yang terkurung dalam bintik kuantum, wayar kuantum dan bahan pukal sebagai fungsi tenaga. Contohnya, bilangan elektron N(E) terkurung dalam bintik kuantum ialah: N (E) = K0 ? di H (E ? Eiw) dengan, (N[E]=bilangan elektron, K0 = pemalar, di = kedegeneratan aras tenaga ke i dan E = tenaga elektron). |
| Malaysian Standards (MS) | Standard Malaysia (MS) | Teknologi Ujian Tanpa Musnah | Radiografi dan Ultrasonik | Dokumen standard rasmi yang diterbitkan oleh Jabatan Standard Malaysia (JSM), Kementerian Tenaga, Sains, Teknologi, Alam Sekitar dan Perubahan Iklim untuk keperluan industri di Malaysia. Contoh standard NDT yang dikeluarkan oleh JSM adalah seperti yang berikut: (i) MS ISO 16809:2017 – Non-Destructive Testing Ultrasonic Thickness Measurement, (ii) MS 1317:2007 – Non-Destructive Testing of Welds – Radiographic Testing of Fusion – Welded Joints (Second Revision), (iii) MS 2399:2011 – Non-Destructive Testing of Welds – Magnetic Particle Testing, (iv) MS 2399:2011 – Non-Destructive Testing of Welds – Magnetic Particle Testing, (v) MS ISO 9712:2014 – Non-Destructive Testing – Qualification and Certification of NDT Personnel (ISO 9712:2012, IDT), (vi) MS ISO 3452-1:2014 – Non-Destructive Testing- Penetrant Testing – Part 1: General Principles (ISO 3452-1:2013, IDT), (vii) MS ISO 3452-2:2014 – Non-Destructive Testing– Penetrant Testing – Part 2: Testing of Penetrant Materials (ISO 3452-2:2013, IDT), (viii) MS ISO 3452-3:2014 – Non-Destructive Testing – Penetrant Testing – Part 3: Reference Test Blocks (ISO 3452-3:2013, IDT), (ix) MS ISO 3452-4:2014 – Non-Destructive Testing – Penetrant Testing – Part 4: Equipment (ISO 3452- 4:1998. IDT), (x) MS ISO 3452-5:2014 – Non-Destructive Testing– Penetrant Testing – Part 5: Penetrant Testing At Temperatures Higher Than 50°C (ISO 3452- 5:2008, IDT), (xi) MS ISO 3452-6:2014 – Non-Destructive Testing –Penetrant Testing – Part 6: Penetrant Testing At Temperatures Lower Than 10°C (ISO 3452- 6:2008, IDT), dan MS ISO 17636-1:2017 – Non-Destructive Testing Of Welds – Radiographic Testing – Part 1: X- and Gamma-Ray Techniques with Film (Third Revision) (ISO 17636-1:2013, IDT) |
| nanocrystal | nanohablur | Fizik | Nanoteknologi | Susunan atom atau ion dalam pepejal yang berstruktur nano dengan saiz 1 nm - 100 nm. Jika saiz hablur ini menyamai atau kurang daripada saiz jejari eksiton, hablur tersebut akan memberikan kesan kuantum, seperti tenaga yang dipancarkan menjadi diskret. Nanohablur yang diperbuat daripada bahan semikonduktor seperti kadmium selenida (CdSe) dikenali sebagai bintik kuantum. Contoh nanohablur yang lain ialah emas, grafit dan nikel. |