| cantilever tip | tip kantilever | Fizik | Nanoteknologi | Satu tip pada hujung kantilever dalam alat mikroskop daya atom (AFM) atau mikroskop penerowongan imbasan (STM) digunakan untuk mengesan kedudukan atau saiz atom atau ciri-ciri lain pada sampel. Tip ini berbentuk tirus dan biasanya disadur dengan emas atau intan supaya lebih keras. |
| tip centring alignment | penjajar muncung | Kejuruteraan Automotif | Industri Pembuatan Kereta | Alat untuk menentukan kesejajaran muncung atas dan muncung bawah kimpal bintik. |
| friction force microscope | mikroskop daya geseran | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengukur daya sisi yang bertindak di antara tip nanoskopik tajam dengan permukaan sampel ke arah kantilever berpintal semasa mengimbas tip. Daya geseran berlaku di antara kantilever dan sampel kepada kilasan yang pada masa yang sama dikesan sebagai imej geseran dan topografik. |
| cadnium tip tester | penguji muncung kadminum | Kejuruteraan Automotif | Industri Pembuatan Kereta | Penguji bateri yang menggunakan dua muncung kadmium yang dimasukkan ke dalam elektrolit sel yang berhampiran untuk menentukan keadaan bateri |
| friction force microscope | mikroskop daya geseran | Fizik | Nanoteknologi | Peranti yang digunakan untuk mengukur daya geseran pada skala nano. Alur laser dan pengesan fotodiod digunakan untuk menentukan pesongan tip semasa penduga mengimbas permukaan. Geseran diukur dengan mendapatkan garis imbasan pada pelbagai beban tolakan yang diketahui. Penduga silikon pada pelbagai pemalar daya dan jejari tip menyamai nilai antara 150 nm - 200 nm digunakan untuk mengenakan beban normal dalam julat imbasan 5 nm - 700 nm. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| Berkovich indenter | Berkovich indenter | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Jenis pelekuk berbentuk tip piramid tiga permukaan yang serupa secara geometri untuk menentukan kekerasan bahan. |
| blunt wedge indenter | pelekuk baji tumpul | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Jenis pelekuk yang digunakan untuk membuat tanda atau lekukan pada bahan uji dengan menggunakan tip pelekuk baji tumpul yang mempunyai sudut baji melebihi 90 darjah untuk menentukan kekerasan bahan. |
| scanning force spectroscope (SFS) | spektroskop daya pengimbasan (SFS) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel melalui pengimbasan kontur permukaan. Proses pengimejan berlaku, apabila pesongan hujung yang tajam pada tip, menderia daya permukaan yang dipasang pada kantilever (julur tuas) dipantau |
| atomic force microscope (AFM) | mikroskop daya atom (AFM) | Nanoteknologi | Teknik Pencirian Nanobahan | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan dengan mengimbas kontur permukaan secara mekanikal iaitu dengan mengesan daya permukaan menggunakan kantilever (julur tuas) pesongan tip tajam. |